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扫描电子显微镜

仪器名称:扫描电子显微镜

英文名称:Scanning Electron Microscope

生产厂家:日本HITACH公司

规格型号:S-570

购置时间:1999年

放置地点:科研四号楼806室

 

技术参数:

1.二次电子像分辨率:3.5nm;

2.放大倍数:20~200000;

3.加速电压:0.5~30kV;

4.配置图像采集与处理系统,可实现数码拍照;

 

主要用途:

扫描电子显微镜具有分辨率高、放大倍数可调范围宽、视野大、景深长、立体感强等多项特点,且操作简便、样品制备简单。可显示细胞和组织的三维结构形貌,可用于纳米材料观察、材料断口分析、样品原始表面观察、元素定性分析等多个方面,因此是用途最为广泛的仪器之一。扫描电子显微镜观测内容涉及植物、动物、昆虫、微生物和材料科学等领域,包括原始表面表征分析、材料断面分析、蛋白质交联、结构功能的分类及表征观察等。

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